TechnoRep - Faculty of Technology and Metallurgy Repository
University of Belgrade - Faculty of Technology and Metallurgy
    • English
    • Српски
    • Српски (Serbia)
  • English 
    • English
    • Serbian (Cyrillic)
    • Serbian (Latin)
  • Login
View Item 
  •   TechnoRep
  • Tehnološko-metalurški fakultet
  • Radovi istraživača / Researchers’ publications (TMF)
  • View Item
  •   TechnoRep
  • Tehnološko-metalurški fakultet
  • Radovi istraživača / Researchers’ publications (TMF)
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Analysis of the influence of structure on mechanical properties of multilayer Ni/Cu thin films for use in microelectronic technologies

Analiza uticaja strukture na mehanička svojstva višeslojnih tankih filmova Ni/Cu za primenu u mikroelektronskim tehnologijama

Thumbnail
2015
0040-21761506915L.pdf (131.5Kb)
Authors
Lamovec, Jelena
Jović, Vesna B.
Mladenović, Ivana
Popović, Bogdan
Radojević, Vesna
Article (Published version)
Metadata
Show full item record
Abstract
Multilayer Ni/Cu thin films were produced by dual-bath electrodeposition technique (DBT) on polycrystalline cold-rolled Cu substrate. Different Ni/Cu multilayer structures were realized by changing of process parameters such as total film thickness, sublayer thickness and Ni/Cu sublayer thickness ratio. The mechanical properties of Vickers microhardness and interfacial adhesion in the films were investigated. Decreasing of sublayer thickness down to 300 nm and increasing of Ni:Cu sublayer thickness ratio to 1:4, lead to higher values of Vickers microhardness compared to monolayer metal films. Thin films with sublayer thicknesses from 75 nm to 5 μm show strong interfacial adhesion. A weak adhesion and sublayer exfoliation for the films with sublayer thickness greater than 5μm were found. Three-dimensional Ni microstructures can be fabricated using multilayer Ni/Cu film by selective etching of Cu layers in an acidic thiourea solution ('surface micromachining' technique).
Tehnikom elektrohemijske depozicije iz dva kupatila (dual-bath technique, DBT), dobijeni su višeslojni filmovi Ni i Cu, naizmeničnim deponovanjem na polikristalni, hladno-valjani bakarni supstrat. Različite strukture Ni/Cu višeslojnih filmova su ostvarene promenom procesnih parametara kao što su ukupna debljina filma, debljina pojedinačnog sloja u filmu i odnos debljina pojedinačnih slojeva Ni i Cu u filmu. Ispitana su mehanička svojstva mikrotvrdoće po Vikersu i adhezije filma na supstratu i kontaktnim površinama slojeva u filmu. Smanjenjem debljine pojedinačnog sloja do 300 nm i povećanjem odnosa debljina slojeva Ni:Cu na 1:4, došlo se do višestrukog povećanja vrednosti Vikersove mikrotvrdoće u odnosu na jednoslojne metalne filmove. Tanki slojevi Ni i Cu sa debljinom od 75 nm do 5 μm pokazuju dobru međuslojnu adheziju. Filmovi sa debljinom slojeva većom od 5 μm, nemaju dobru međuslojnu adheziju i uočava se delaminacija (razdvajanje) slojeva. Sve strukture višeslojnih filmova Ni i Cu ...se mogu primeniti za izradu trodimenzionalnih MEMS struktura od Ni, metodom selektivnog nagrizanja slojeva Cu u kiselom rastvoru tiouree tehnikom 'površinskog mikromašinstva'.

Keywords:
Ni/Cu electrochemical deposition / multilayer thin films / Vickers microhardnbess / interfacial adhesion / selective etching / elektrohemijska depozicija Ni/Cu / višeslojni tanki filmovi / Vikersova mikrotvrdoća / međuslojna adhezija / selektivno nagrizanje
Source:
Tehnika, 2015, 70, 6, 915-920
Publisher:
  • Savez inženjera i tehničara Srbije, Beograd
Funding / projects:
  • Micro- Nanosystems and Sensors for Electric Power and Process Industry and Environmental Protection (RS-32008)

DOI: 10.5937/tehnika1506915L

ISSN: 0040-2176

[ Google Scholar ]
URI
http://TechnoRep.tmf.bg.ac.rs/handle/123456789/2928
Collections
  • Radovi istraživača / Researchers’ publications (TMF)
Institution/Community
Tehnološko-metalurški fakultet
TY  - JOUR
AU  - Lamovec, Jelena
AU  - Jović, Vesna B.
AU  - Mladenović, Ivana
AU  - Popović, Bogdan
AU  - Radojević, Vesna
PY  - 2015
UR  - http://TechnoRep.tmf.bg.ac.rs/handle/123456789/2928
AB  - Multilayer Ni/Cu thin films were produced by dual-bath electrodeposition technique (DBT) on polycrystalline cold-rolled Cu substrate. Different Ni/Cu multilayer structures were realized by changing of process parameters such as total film thickness, sublayer thickness and Ni/Cu sublayer thickness ratio. The mechanical properties of Vickers microhardness and interfacial adhesion in the films were investigated. Decreasing of sublayer thickness down to 300 nm and increasing of Ni:Cu sublayer thickness ratio to 1:4, lead to higher values of Vickers microhardness compared to monolayer metal films. Thin films with sublayer thicknesses from 75 nm to 5 μm show strong interfacial adhesion. A weak adhesion and sublayer exfoliation for the films with sublayer thickness greater than 5μm were found. Three-dimensional Ni microstructures can be fabricated using multilayer Ni/Cu film by selective etching of Cu layers in an acidic thiourea solution ('surface micromachining' technique).
AB  - Tehnikom elektrohemijske depozicije iz dva kupatila (dual-bath technique, DBT), dobijeni su višeslojni filmovi Ni i Cu, naizmeničnim deponovanjem na polikristalni, hladno-valjani bakarni supstrat. Različite strukture Ni/Cu višeslojnih filmova su ostvarene promenom procesnih parametara kao što su ukupna debljina filma, debljina pojedinačnog sloja u filmu i odnos debljina pojedinačnih slojeva Ni i Cu u filmu. Ispitana su mehanička svojstva mikrotvrdoće po Vikersu i adhezije filma na supstratu i kontaktnim površinama slojeva u filmu. Smanjenjem debljine pojedinačnog sloja do 300 nm i povećanjem odnosa debljina slojeva Ni:Cu na 1:4, došlo se do višestrukog povećanja vrednosti Vikersove mikrotvrdoće u odnosu na jednoslojne metalne filmove. Tanki slojevi Ni i Cu sa debljinom od 75 nm do 5 μm pokazuju dobru međuslojnu adheziju. Filmovi sa debljinom slojeva većom od 5 μm, nemaju dobru međuslojnu adheziju i uočava se delaminacija (razdvajanje) slojeva. Sve strukture višeslojnih filmova Ni i Cu se mogu primeniti za izradu trodimenzionalnih MEMS struktura od Ni, metodom selektivnog nagrizanja slojeva Cu u kiselom rastvoru tiouree tehnikom 'površinskog mikromašinstva'.
PB  - Savez inženjera i tehničara Srbije, Beograd
T2  - Tehnika
T1  - Analysis of the influence of structure on mechanical properties of multilayer Ni/Cu thin films for use in microelectronic technologies
T1  - Analiza uticaja strukture na mehanička svojstva višeslojnih tankih filmova Ni/Cu za primenu u mikroelektronskim tehnologijama
EP  - 920
IS  - 6
SP  - 915
VL  - 70
DO  - 10.5937/tehnika1506915L
ER  - 
@article{
author = "Lamovec, Jelena and Jović, Vesna B. and Mladenović, Ivana and Popović, Bogdan and Radojević, Vesna",
year = "2015",
abstract = "Multilayer Ni/Cu thin films were produced by dual-bath electrodeposition technique (DBT) on polycrystalline cold-rolled Cu substrate. Different Ni/Cu multilayer structures were realized by changing of process parameters such as total film thickness, sublayer thickness and Ni/Cu sublayer thickness ratio. The mechanical properties of Vickers microhardness and interfacial adhesion in the films were investigated. Decreasing of sublayer thickness down to 300 nm and increasing of Ni:Cu sublayer thickness ratio to 1:4, lead to higher values of Vickers microhardness compared to monolayer metal films. Thin films with sublayer thicknesses from 75 nm to 5 μm show strong interfacial adhesion. A weak adhesion and sublayer exfoliation for the films with sublayer thickness greater than 5μm were found. Three-dimensional Ni microstructures can be fabricated using multilayer Ni/Cu film by selective etching of Cu layers in an acidic thiourea solution ('surface micromachining' technique)., Tehnikom elektrohemijske depozicije iz dva kupatila (dual-bath technique, DBT), dobijeni su višeslojni filmovi Ni i Cu, naizmeničnim deponovanjem na polikristalni, hladno-valjani bakarni supstrat. Različite strukture Ni/Cu višeslojnih filmova su ostvarene promenom procesnih parametara kao što su ukupna debljina filma, debljina pojedinačnog sloja u filmu i odnos debljina pojedinačnih slojeva Ni i Cu u filmu. Ispitana su mehanička svojstva mikrotvrdoće po Vikersu i adhezije filma na supstratu i kontaktnim površinama slojeva u filmu. Smanjenjem debljine pojedinačnog sloja do 300 nm i povećanjem odnosa debljina slojeva Ni:Cu na 1:4, došlo se do višestrukog povećanja vrednosti Vikersove mikrotvrdoće u odnosu na jednoslojne metalne filmove. Tanki slojevi Ni i Cu sa debljinom od 75 nm do 5 μm pokazuju dobru međuslojnu adheziju. Filmovi sa debljinom slojeva većom od 5 μm, nemaju dobru međuslojnu adheziju i uočava se delaminacija (razdvajanje) slojeva. Sve strukture višeslojnih filmova Ni i Cu se mogu primeniti za izradu trodimenzionalnih MEMS struktura od Ni, metodom selektivnog nagrizanja slojeva Cu u kiselom rastvoru tiouree tehnikom 'površinskog mikromašinstva'.",
publisher = "Savez inženjera i tehničara Srbije, Beograd",
journal = "Tehnika",
title = "Analysis of the influence of structure on mechanical properties of multilayer Ni/Cu thin films for use in microelectronic technologies, Analiza uticaja strukture na mehanička svojstva višeslojnih tankih filmova Ni/Cu za primenu u mikroelektronskim tehnologijama",
pages = "920-915",
number = "6",
volume = "70",
doi = "10.5937/tehnika1506915L"
}
Lamovec, J., Jović, V. B., Mladenović, I., Popović, B.,& Radojević, V.. (2015). Analysis of the influence of structure on mechanical properties of multilayer Ni/Cu thin films for use in microelectronic technologies. in Tehnika
Savez inženjera i tehničara Srbije, Beograd., 70(6), 915-920.
https://doi.org/10.5937/tehnika1506915L
Lamovec J, Jović VB, Mladenović I, Popović B, Radojević V. Analysis of the influence of structure on mechanical properties of multilayer Ni/Cu thin films for use in microelectronic technologies. in Tehnika. 2015;70(6):915-920.
doi:10.5937/tehnika1506915L .
Lamovec, Jelena, Jović, Vesna B., Mladenović, Ivana, Popović, Bogdan, Radojević, Vesna, "Analysis of the influence of structure on mechanical properties of multilayer Ni/Cu thin films for use in microelectronic technologies" in Tehnika, 70, no. 6 (2015):915-920,
https://doi.org/10.5937/tehnika1506915L . .

DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
About TechnoRep | Send Feedback

OpenAIRERCUB
 

 

All of DSpaceInstitutions/communitiesAuthorsTitlesSubjectsThis institutionAuthorsTitlesSubjects

Statistics

View Usage Statistics

DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
About TechnoRep | Send Feedback

OpenAIRERCUB